◾磁性樹脂シールド構造、超低バズノイズ。
◾ 磁気シールド構造：電磁干渉（EMI）に対する優れた耐性。
◾ 小型、高定格電流、低DCR。
◾ キャリアテープ包装、SMTプロセスに適しています。
◾ DC-DCコンバータ、携帯電話、PDA、DSCなどに広く使用されています。
◾動作温度範囲：-40℃ ～ +125℃（コイルの温度上昇を含む）。
電気的特性
| 部品番号 | インダクタンス (μH) | DCR タイプ (mΩ) | Isat (A) | Irms (A) | 動作温度 (℃) | 長さ (mm) | 幅 (mm) | 高さ (mm) | マウント | シールド | コア材料 | AEC グレード |
| 試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験 | 0.47 | 61 | 4.27 | 2.34 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験 | 0.68 | 74 | 3.68 | 2.13 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 1.00 | 90 | 2.90 | 2.1 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 1.20 | 129 | 2.67 | 1.59 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 1.50 | 147 | 2.51 | 1.53 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 2.20 | 216.00 | 2.07 | 1.25 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 2.70 | 239.00 | 1.92 | 1.19 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 3.30 | 264.00 | 1.80 | 1.13 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験 | 4.70 | 377.00 | 1.25 | 0.95 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| CWPA252012-5R6M について | 5.60 | 538.00 | 1.25 | 0.80 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験 | 6.80 | 581.00 | 1.10 | 0.75 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験用試験 | 8.20 | 658.00 | 1.10 | 0.71 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品の試験用品 | 10.00 | 690.00 | 0.88 | 0.68 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 規制の適用について | 12.00 | 1075.00 | 0.88 | 0.56 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
| 試験対象は,CWPA252012-150M | 15.00 | 1591.00 | 0.77 | 0.46 | -40〜+125 | 2.50 | 2.00 | 1.20 | SMD | Y | フェライト | n |
【サンプル申請 】
適用
◾ DC-DCコンバータ
◾ コントローラーの切り替え
◾ ポータブル電源
注意事項
◾ すべてのデータは25℃の周囲温度でテストされています。
◾ インダクタンス測定条件は100kHz、0.5Vです。
◾ 飽和電流：インダクタンスが初期値の30%減少したときのDC電流の実際の値。
◾ 温度上昇電流：温度上昇がΔT50℃(Ta=25℃)のときのDC電流の実際の値。
◾ 特別な注意：回路設計、部品配置、PCBのサイズと厚さ、冷却システムなど。
◾ すべてが製品の温度に影響します。最終的なアプリケーションで製品の温度を確認してください。
保存
◾ 製品の保管条件 : 温度 5～40℃, RH≤70%.
◾ 使用のために取り出す場合、残りの製品はプラスチック袋に密封し、上記の条件に従って保存し、端子（電極）の酸化を避け、はんだ付け状態に影響を与えないようにしてください。
◾ 貯蔵について コダカ 電子部品を出荷日から12ヶ月以上保管することは推奨されません。他の要因に加え、端子が劣化し、はんだ付け性が低下する可能性があります。したがって、すべての製品は出荷日から12ヶ月以内に使用してください。
◾ 高温、高湿度、ほこり、腐食に影響を受けやすい場所など、不適切な保管条件で製品を保管しないでください。
◾ 製品は常に注意して取り扱ってください。
◾ 直接素手で電極に触れないでください。油分がはんだ付けを妨げる可能性があります。
◾ はんだ付けのための最適な条件を常に確保してください。
データシートダウンロード: 
CWPA252012.pdf
VSAD0660
CPQX2915L
CSBX1030
TCI942RS
EN